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進(jìn)口納米粒度及Zeta電位分析儀技術(shù)參數(shù)科普

更新時(shí)間:2024-10-08      點(diǎn)擊次數(shù):229

  隨著納米技術(shù)的快速發(fā)展,納米粒度及Zeta電位分析儀已成為材料科學(xué)、制藥工業(yè)、化妝品行業(yè)等多個(gè)領(lǐng)域的工具。這類儀器主要用于測(cè)量顆粒或分子的粒徑分布、Zeta電位以及其他相關(guān)物理化學(xué)性質(zhì)。下面將詳細(xì)介紹一款進(jìn)口納米粒度及Zeta電位分析儀的主要技術(shù)參數(shù)及其優(yōu)勢(shì)。

  1. 直接測(cè)量無需準(zhǔn)備

  這款分析儀的最大特點(diǎn)是能夠直接測(cè)量未經(jīng)稀釋或特殊處理的樣品,這樣既避免了人為操作可能引入的誤差,又節(jié)省了準(zhǔn)備樣品所需的時(shí)間,提高了工作效率。

  2. 諧振硬件設(shè)計(jì)

  采用諧振硬件設(shè)計(jì),使得儀器在保持高精度的同時(shí),還具有較好的性價(jià)比,滿足了用戶對(duì)于性能與成本之間的平衡需求。

  3. 寬廣的測(cè)量范圍

  該儀器具備廣泛的粒徑測(cè)量范圍,從1納米到30微米,幾乎涵蓋了所有納米級(jí)別的顆粒測(cè)量需求,適用于多種樣品的分析。

  4. 自動(dòng)電位和容積測(cè)量

  具備自動(dòng)測(cè)量電位和容積的功能,可以輕松進(jìn)行等電點(diǎn)(IEP)、表面活性劑吸附效果以及其他動(dòng)態(tài)測(cè)量,簡(jiǎn)化了實(shí)驗(yàn)步驟,加快了研究進(jìn)程。

  5. 無粒子沉降影響

  內(nèi)置樣品混合和泵送功能,有效防止了測(cè)量過程中粒子的沉降,確保了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

  6. Zeta電位探頭

  配備的Zeta浸入式探頭設(shè)計(jì),不僅方便使用,而且能夠提供精確、可靠的測(cè)量結(jié)果,適用于不同容器內(nèi)的樣品檢測(cè)。

進(jìn)口納米粒度及zeta電位分析儀.jpg

  7. 高粘度樣品適用性

  可以測(cè)量粘度較高的樣品,樣品濃度范圍從0.1%到60%,適應(yīng)性強(qiáng)。

  8. pH值范圍

  支持在0至14的pH值范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)定,涵蓋了幾乎所有常見溶液的酸堿環(huán)境。

  9. 多參數(shù)同步測(cè)量

  儀器能夠同時(shí)獲取Zeta電位、pH值、電導(dǎo)率、溫度等多項(xiàng)參數(shù),為用戶提供全面的樣品信息。

  10. 小樣本量要求

  最小樣品量?jī)H為10毫升,沒有上限限制,非常適合微量樣品的分析。

  11. 用戶友好的軟件界面

  采用微軟支持的操作平臺(tái),軟件界面直觀易用,具備強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能,便于數(shù)據(jù)的整理與分析。

  12. 售后保障

  提供長(zhǎng)達(dá)12個(gè)月的保修期,并承諾在此期間內(nèi)提供免費(fèi)的技術(shù)咨詢服務(wù),讓用戶在使用過程中無憂。

  這款進(jìn)口納米粒度及Zeta電位分析儀以其全面的功能、精確的測(cè)量能力和用戶友好的設(shè)計(jì),在科學(xué)研究與工業(yè)應(yīng)用中發(fā)揮著重要作用。無論是基礎(chǔ)研究還是產(chǎn)品開發(fā),都能夠從中受益匪淺。


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