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高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀可以廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域

更新時(shí)間:2023-10-08      點(diǎn)擊次數(shù):293
  高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀是用于粒子表征和分散性評(píng)價(jià)的儀器。它可以用于測(cè)量和分析納米粒子的粒度分布、濁度、流變性質(zhì)以及粒子間的相互作用。儀器通過激光散射技術(shù)來測(cè)量粒子的粒度分布。激光束照射在樣品中的納米顆粒上,被散射光通過光學(xué)系統(tǒng)傳導(dǎo)到探測(cè)器上。根據(jù)光散射的強(qiáng)度和角度分布,可以計(jì)算出顆粒的粒徑大小。激光散射方法有兩種,一種是動(dòng)態(tài)光散射(DLS)方法,另一種是靜態(tài)光散射(SLS)方法。DLS方法適用于測(cè)量較小的納米顆粒,而SLS方法適用于較大尺寸的粒子。
 
  接下來,讓我們來看看Zeta電位分析的原理。Zeta電位是一種描述顆粒和顆粒間相互作用的電位差。它可以反映顆粒的表面電荷以及顆粒間的斥力或吸引力。Zeta電位的測(cè)量是通過電動(dòng)力學(xué)測(cè)量技術(shù)來實(shí)現(xiàn)的。儀器通過在納米顆粒懸浮液中應(yīng)用外電場(chǎng),測(cè)量顆粒的運(yùn)動(dòng)速度。根據(jù)顆粒的運(yùn)動(dòng)速度和外電場(chǎng)的大小,可以計(jì)算出顆粒的Zeta電位。Zeta電位的測(cè)量可以用來評(píng)估顆粒的穩(wěn)定性和表面電荷性質(zhì),用于衡量顆粒間的相互作用力。
 
  高濃度納米粒度及zeta電位分析儀廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域:
 
  1.納米材料研究:納米材料具有特殊的物理和化學(xué)性質(zhì),可以用于研究納米材料的粒度大小、分布和表面電位等特性。
 
  2.藥物傳遞系統(tǒng)研究:可以幫助研究人員了解納米藥物傳遞系統(tǒng)的穩(wěn)定性、聚集性和表面電荷等性質(zhì),有助于優(yōu)化藥物的輸送效果。
 
  3.食品和飲料行業(yè):可以用于研究食品和飲料中的納米顆粒的粒度分布、穩(wěn)定性和電荷特性,有助于改善產(chǎn)品質(zhì)量和穩(wěn)定性。
 
  4.環(huán)境污染監(jiān)測(cè):分析污染物顆粒的粒度和電荷特性,用于監(jiān)測(cè)和評(píng)估環(huán)境中的污染物的來源和分布。
 
  5.生物醫(yī)學(xué)研究:可以用于研究生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中的納米顆粒的物理特性和相互作用,如納米藥物在體內(nèi)的分布和代謝等。
 
  6.涂料和涂層研究:研究涂料和涂層中的納米顆粒的分布和穩(wěn)定性,有助于優(yōu)化涂料和涂層的性能和耐久性。
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