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固體表面Zeta電位分析儀

簡要描述:固體表面Zeta電位分析儀,可測量縱向粘度,60%固體,PH值,電導率,溫度,聲衰減和聲速度譜;

  • 產(chǎn)品型號:APS100型
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2021-11-03
  • 訪  問  量:2711

詳細介紹

品牌其他品牌測量時間1-10min秒
分辨率大于0.1nm微米測量范圍5nm-100μm微米
重現(xiàn)性<1%分散方式濕法分散
價格區(qū)間100萬-150萬儀器種類動態(tài)光散射
產(chǎn)地類別進口應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥

固體表面Zeta電位分析儀

原理簡介:

APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù),不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。

當聲音穿越泥漿或膠體時,是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關(guān)。APS可在1 - 100 MHz的頻率范圍內(nèi)非常準確地測量聲音衰減。因為聲音穿過所有的物質(zhì)媒介,APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進行。粒子沉降并不是一個問題,因為在測量時樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。

APS取樣分析是快速和容易的,無需稀釋樣品。稀釋樣品費時,容易出錯,并可能改變樣品的實際PSD。簡單地倒,或者連續(xù)泵送樣品進入到APS的樣品室,APS的直觀的軟件在幾分鐘內(nèi)做玩余下的工作。

計算詳細PSD數(shù)據(jù)的技術(shù),不需要假設(shè)PSD形狀。其他類型的儀器,例如光散射,意味著軟件或操作者假設(shè)或猜測PSD是單峰、雙峰、對數(shù)正態(tài)或高斯分布的。這種假設(shè)可能導致數(shù)據(jù)不可靠。

專門的APS硬件設(shè)計簡化了操作,同時減少維護。這個設(shè)計適合研發(fā)以及重復(fù)質(zhì)量控制測量。APS也適合過程在線操作。

固體表面Zeta電位分析儀

主要用途:

1)半導體化學機械拋光(CMP)料漿;

2)陶瓷;

3)油墨;

4)乳劑穩(wěn)定性;

5)藥品;

6)生物膠體;

7)熒光粉;

8)有機和無機顏料如Ti02和炭黑;

9)催化劑;

10)礦物;

11)聚合物乳液;

12)水和非水分散體系;

技術(shù)參數(shù):

1)完整的粒度分布,而不是簡單的平均值和標準偏差大小的數(shù)據(jù);

2)不需要稀釋樣品;

3)不需要假設(shè)PSD形狀;

4)粒度范圍:0.005-100微米;

5)無電解質(zhì)干涉;

6)可測量水的/非水的/不透明的/粘性的樣品;

7)可測量縱向粘度,60%固體,PH值,電導率,溫度,聲衰減和聲速度譜;

8)具有自動滴定選項;

9)專門技術(shù):1-100MHz聲衰減譜;

10)溶劑:水/非水;

11)樣品固體%:0.1-60%體積比;

12)樣品體積:標準是120ml,50ml小體積可用;



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